固緯安規(guī)測(cè)試儀可用于高電壓元、器件的耐壓測(cè)量試驗(yàn)（用交、直流耐壓儀），如硅堆等。主要是用來檢測(cè)產(chǎn)品是否漏電、是否接地良好、會(huì)不會(huì)傷害人身安全的專用，主要檢測(cè)項(xiàng)目有電壓、泄漏電流、絕緣電阻和接地電阻。

 

　　值得注意的是直流高壓輸出是負(fù)電壓，而地為正極。測(cè)試電容時(shí)，在電容器兩端加上電壓時(shí)有一充電過程，此時(shí)在測(cè)試電路中有一充電電流，當(dāng)該電流大于所設(shè)定的漏電電流值時(shí)，耐壓測(cè)試儀就會(huì)報(bào)警，使測(cè)試中斷，無法進(jìn)行。因此，安規(guī)測(cè)試儀在測(cè)試時(shí)，應(yīng)緩慢增加電壓，充電電流小于所設(shè)定的漏電電流值，直到規(guī)定測(cè)試電壓，進(jìn)行測(cè)試。而不能采用固定電壓，復(fù)位-啟動(dòng)方式進(jìn)行測(cè)試.在交流回路中相當(dāng)于直流回路中的電阻，因此，安規(guī)測(cè)試儀在交流回路中就產(chǎn)生一個(gè)電流，當(dāng)該電流大于所設(shè)定的漏電流值時(shí)，耐壓測(cè)試儀就會(huì)報(bào)警，使得測(cè)試中斷，無法進(jìn)行。

 

　　固緯安規(guī)測(cè)試儀在DC耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩升時(shí)間?

　　DC耐壓測(cè)試通常會(huì)需要加上緩升時(shí)間以及放電時(shí)間，因?yàn)榇蠖嗟腄UT具有電容性而會(huì)導(dǎo)致充電電流產(chǎn)生。為了使充電變位電流(charge current)穩(wěn)定，需要緩升時(shí)間來緩沖，才不會(huì)因充電電流而導(dǎo)致漏電流過高，進(jìn)而判斷為不良品(FAIL)。

 

　　在做耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩降時(shí)間?

　　耐壓測(cè)試會(huì)使DUT充電，因此在耐壓測(cè)試結(jié)束時(shí)須一段時(shí)間來進(jìn)行放電，優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)將放電時(shí)間減至較少，并且在未達(dá)放電標(biāo)準(zhǔn)前會(huì)明顯標(biāo)示危險(xiǎn)警告，以防止測(cè)試人員不當(dāng)接觸而受到電氣傷害。

 

　　固緯安規(guī)測(cè)試儀使用時(shí)何謂flashover 電氣閃絡(luò)(ARC)?

　　安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)中明顯指出不得有絕緣破壞(Breakdown)發(fā)生，而部份安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)更要求不得有電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC發(fā)生，但并無測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。ARC是屬於電氣放電的一種，當(dāng)ARC發(fā)生時(shí)已表示絕緣能力已不足，若多次的ARC發(fā)生，則會(huì)導(dǎo)致絕緣破壞。